Le profilomètre optique 3D SuperView W1 est un instrument de haute précision conçu pour la mesure sub-nanomètre de divers composants de précision. Basé sur la technologie d’interférence à lumière blanche, combinée à un module de balayage précis en axe Z et à un algorithme avancé de modélisation 3D, il effectue une numérisation de surface totalement sans contact et génère un profil 3D détaillé de la surface de l’objet.

Les données 3D recueillies sont traitées et analysées à l’aide du logiciel XtremeVision, fournissant une large gamme de paramètres 2D et 3D reflétant avec précision la qualité de la surface mesurée.

Le SuperView W1 est un instrument optique convivial et performant, offrant de puissantes capacités d’analyse pour l’évaluation de la forme et de la rugosité des surfaces. Sa source lumineuse unique permet de mesurer de manière fiable des pièces de précision aux surfaces lisses comme rugueuses.

Ce profilomètre optique avancé est idéal pour la recherche, le contrôle qualité et les environnements de production de haute précision, où l’exactitude et la répétabilité maximales sont essentielles.