Leica Visoria M – Das effiziente Materialmikroskop für Routine und Analyse

Präzision trifft auf Ergonomie: Optimieren Sie Ihre Materialprüfung mit dem Leica Visoria M. Ob in der Metallographie, Elektronikentwicklung oder Qualitätssicherung – dieses aufrechte Lichtmikroskop setzt neue Massstäbe in Sachen Workflow-Effizienz und Bedienkomfort.

Das Leica Visoria M wurde speziell für Anwender entwickelt, die höchste Ansprüche an die optische Qualität stellen, aber gleichzeitig tägliche Routineaufgaben zeitsparend und fehlerfrei bewältigen müssen. Bei der Ryf AG erhalten Sie dieses Hochleistungssystem inklusive massgeschneiderter Konfiguration und unserem erstklassigen Vor-Ort-Service.

Die Highlights des Leica Visoria M:

Intelligente Codierung für schnellere Ergebnisse

Sparen Sie wertvolle Zeit bei der Dokumentation. Dank der vollständig codierten Funktionen (Objektivrevolver, Beleuchtung und Kontrastmanager) erkennt das System automatisch die gewählten Einstellungen.

• Automatisches Lichtmanagement: Die Helligkeit passt sich beim Objektivwechsel automatisch an.
• Fehlerfreie Kalibrierung: Massstabsbalken werden in der Software Enersight sofort korrekt eingeblendet – manuelle Eingaben entfallen.

Höchster ergonomischer Komfort

Lange Arbeitstage am Mikroskop können belastend sein. Das Visoria M wirkt dem entgegen:

• Symmetrische Anordnung: Die Bedienelemente für Fokus und Tisch sind so platziert, dass Sie eine natürliche Körperhaltung einnehmen können.
• Individuelle Anpassung: Nutzen Sie die breite Palette an Ergo-Tuben und Ergo-Modulen, um die Einblickhöhe und den Winkel perfekt auf Ihre Bedürfnisse abzustimmen.
• Einhandbedienung: Das Design ermöglicht die Steuerung wichtiger Funktionen mit nur einer Hand – flexibel umbaubar für Rechts- oder Linkshänder.

Vielseitige Kontrastverfahren für jedes Material

Strukturen, Defekte oder Verunreinigungen – mit dem Visoria M entgeht Ihnen kein Detail. Das System unterstützt alle gängigen Verfahren:

• Hellfeld & Dunkelfeld
• Polarisation & DIC (Differential-Interferenz-Kontrast)
• Schräglicht: Ideal zur Visualisierung von Oberflächentopografien.
• Fluoreszenz: Für spezialisierte Materialanalysen.

Digitale Effizienz mit der Enersight Software

In Kombination mit der intuitiven Enersight Plattform wird das Visoria M zum digitalen Kraftpaket. Profitieren Sie von Funktionen wie:

• Schichtdickenmessung: Halbautomatische Analyse von Beschichtungen.
• EDOF (Erweiterte Tiefenschärfe): Erstellen Sie gestochen scharfe Bilder von Proben mit grossen Höhenunterschieden.
• XY-Stitching: Setzen Sie mehrere Einzelbilder zu einer hochauflösenden Gesamtübersicht zusammen.

Technische Daten im Überblick:

• Objektivrevolver: 5-fach (M32) oder 6-fach (M25) codiert.
• Fokussystem: 3-stufig (Grob, Mittel, Fein) für präzises Scharfstellen bei hohen Vergrößerungen.
• Probenraum: Grosszügiger Arbeitsabstand und verschiedene Objekttische (XY-Tische, Drehtische) verfügbar.
• Sicherheit: Integrierter Fokusstopp zum Schutz von Objektiv und Probe sowie antimikrobielle Oberflächenbeschichtung.