Mikroskopsysteme für die Wafer- und Maskenprüfung (200mm-Wafer) für die Fehlererkennung mit Auflicht

L200

Mikroskopsysteme für die Wafer- und Maskenprüfung (200mm-Wafer) für die Fehlererkennung mit Auflicht.

L200ND

Das ausgereifteste Modell. Mit Durchlicht-Funktionen, die sich ideal für die LCD- und Maskeninspektion eignen.

L200A

Automatische Version des L200. Häufig verwendete Funktionen, wie Blendensteuerung, Fokussierung, Hell-/Dunkelfeldwechsel, Drehung des Objektivrevolvers, Helligkeitsregelung und DIC-Einstellungen sind motorbetrieben und können über externen Controller oder PC gesteuert werden.